资产编号 201907051

仪器名称
高分辨场发射扫描电子显微镜(MAIA3 FSEM)  状态【完好
英文名称 High resolution field emission scanning electron m
规格/型号 */MAIA3 LMH 
生产厂商 Tescan公司
国别 捷克
所属学院 现代分析与计算中心 放置地点 [表面分析一室 ]
使用日期 2013-6-27 电子邮箱 wushan10.30@163.com
性能指标 电子枪: 高亮度肖特基场发射枪
分辨率:
标配(In-Beam 二次电子) 减速模式
0.7 nm @ 15 kV
1.4 nm @ 1 kV 1.0 nm @ 1 kV
1.7 nm @ 500 V 1.2 nm @ 200 V
In-Beam LE-BSE: 1.6 nm @ 15 kV

放大倍数: 4 倍 - 1,000,000 倍
视野宽度: 分析工作距离 5 mm 时为 4.3 mm;30 mm 时为 7.5 mm
加速电压: 200 V - 30 kV/减速模式下低至 50V
探针电流: 2 pA - 400 nA
电子光学工作模式:
UH Resolution: 最佳分辨率观察
Depth: 高分辨观察,加强了景深
Analysis: 适合观测和分析磁性样品
Overview: 大视野观察
主要应用 矿业工程、材料、化工等领域, 高分辨成像。
样品要求 1.送检样品不能有磁性、不能含水;
2.块状样品长、宽不能超过10mm,高度不能超过5mm;
3.粉末样品应牢固站在导电胶带,在气球吹拂过程中不能晃动;
4.块状样品质地坚实,不能落粉。
5.每半小时预约1个样品。
仪器说明       MAIA3是一歀可对纳米材料进行综合表征的场发射扫描电子显微镜,在对电子束敏感样品和非导电样品(包括未涂覆的生物样品和半导体样品)观察和成像方面具有巨大的优势。配置Triens  TM电子光学镜筒,超高分辨的 Triens  TM透镜系统和强大的探测器系统——三个二次电子探测器和三个背散射电子探测器,即便是衬度差异很小的样品上也能够观察到纳米级的细节。先进的软件模块和大量的自动程序将让用户获得更好的体验。