资产编号 20116270

仪器名称
X射线光电子能谱仪(XPS)  状态【完好
英文名称 X-Ray Photoelectron Spectrometer ESCALAB 250Xi
规格/型号 */ESCALAB 250Xi 
生产厂商 赛默飞世尔(Thermo Fisher)
国别 美国(USA)
所属学院 现代分析与计算中心 放置地点 [表面分析三室]
使用日期 2013-7-9 电子邮箱 979383088@qq.com
性能指标 主要技术指标 180ο半球能量分析器,能量范围:0~5,000 eV; Al Kα单色化XPS,X射线束斑面积从900 μm到200 μm连续可调,大束斑Ag3d5/2(FWHM=0.50 eV)强度≥400 kcps,20μm束斑:Ag3d5/2(FWHM=0.45 eV)强度≥0.5 kcps; Mg/Al双阳极XPS,大束斑Ag3d5/2(FWHM=0.8eV)强度大于650kcps; 快速平行成像,对Ag3d5/2线扫描的最佳空间分辨率优于3 μm; 分析室真空度:5.0×10-10 mbar; 准备室真空度:7.0×10-9 mbar。
主要应用 常规XPS分析;XPS成像;XPS深度剖析
样品要求 样品状态:固态样品,一般可测块状、粉末及薄膜样品。 预处理尺寸要求: a) 块状样品:面积小于5mm×8 mm,高度小于2 mm(表面要平整); b) 粉末样品:粒度小于200目;特殊样品除外; c) 薄膜样品:面积小于5mm×8 mm(测试面要做好标记)。 物理及化学性质等要求: a) 无磁性、放射性以及毒性; b) 样品不吸水,在超高真空中及X光照射下不分解,无挥发性物质(如单质Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg或者有机挥发物),避免对高真空系统造成污染;不大量放气(尤其腐蚀性气体);若含有高挥发性分子或者coating,请务必先自行烘烤抽除;高分子样品在送样前须进行干燥处理。 其他注意事项: a) 样品分析面确保不受污染,可使用异丙醇,丙酮,正己烷,或三氯甲烷溶液(均为分析纯)清洗以达到清洁要求; b) 使用玻璃制品(如表面皿、称量瓶等)或者铝箔盛放样品,禁止直接使用塑料容器、塑料袋或纸袋,以免硅树脂或纤维污染样品表面; c) 制备或处理样品时使用聚乙烯手套,禁止使用塑料手套和工具以免硅树脂污染样品表面。
仪器说明  

Escalab 250Xi 型电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器,可用于研究各种固体材料样品表面(1-10nm厚度)的元素种类、化学态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息;通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息;利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。本仪器以X射线光电子能谱为主要功能,还带有俄歇电子能谱、紫外光电子能谱、反射电子能量损失谱及离子散射谱等附件功能。 

 

XPS宽谱扫描(Survey scan)可以分析样品表面元素的种类及相对含量。

 

XPS窄谱扫描(High resolution scan)可以分析元素的化学态及各种化学态的相对含量

 

XPS成像可以分析同种元素不同化学态的分布

 

结合离子枪,可以实现样品的深度剖析,研究不同深度上元素的化学态、相对含量、分布等信息。